ASTM F744M-97(2003)

Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]

NORM herausgegeben am 10.2.1997

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F744M-97(2003)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.2.1997
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F744M-97(2003) :

Keywords:
DIC, digital integrated circuits, dose rate, ionizing radiation, radiation dose rate, threshold for upset, upset