ASTM F769-00

Standard Test Method for Measuring Transistor and Diode Leakage Currents (Withdrawn 2006)

NORM herausgegeben am 10.6.2000

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F769-00
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.6.2000
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F769-00 :

Keywords:
diode, junction leakage, leakage current, radiation testing, total radiation dose, transistor, ICS Number Code 31.080.10 (Diodes), 31.080.30 (Transistors)