Test Method for Crystallographic Perfection of Epitaxial Deposits of Silicon by Etching Techniques (Withdrawn 1998)
Bezeichnung normen: ASTM F80-94
Anmerkung: UNGÜLTIG
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)