ASTM F815-88(1993)e1

Test Method for Detection of Epitaxial Spikes (Withdrawn 1999) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NORM herausgegeben am 1.1.1993

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F815-88(1993)e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1993
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F815-88(1993)e1 :

Keywords:
Epitaxial spikes, Nondestructive evaluation (NDE)-semiconductors, Pass-fail test, Visual examination-electronic components/devices, epitaxial spike detection on silicon wafers, pass-fail test,, Silicon-semiconductor applications, wafers-epitaxial spike detection, test, ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)