ASTM F817-83(1990)

Test Method for Characterization of Film Resistor Materials and Processes (Withdrawn 1996)

NORM herausgegeben am 1.1.1983

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F817-83(1990)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1983
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F817-83(1990) :

Keywords:
Diffusion, Electrical conductors-semiconductors, Film resistors, Linwood least squares test, Microcircuits, Resistance and resistivity (electrical)-semiconductors, Resistors-film, Statistical methods-electronic components/devices, film resistor (thick/thin) materials/processes-characterization, test