
Practice for Determining Pinhole Density in Photoresist Films Used in Microelectronic Device Processing (Withdrawn 1996)
Bezeichnung normen: ASTM F890-84(1992)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM