Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F980-10
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.6.1996
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F980-10 :

Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices, Annealing, Defects--semiconductors, Destructive testing--semiconductors, Displacement--electronic materials/applications, Electrical conductors (semiconductors), Electronic hardness, Integrated circuits, Neutron radiation, Pulsed neutron-radiation source, Radiation exposure--electronic components/devices