ASTM F980-16

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NORM herausgegeben am 1.12.2016

Englisch -
PDF - sofortiges Download (72.10 EUR)

Englisch -

Gedruckt (72.10 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F980-16
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.12.2016
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F980-16 :

Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices ,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)