ASTM F980M-96(2003)

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]

NORM herausgegeben am 10.6.1996

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F980M-96(2003)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.6.1996
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F980M-96(2003) :

Keywords:
annealing factor, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, rapid annealing, semiconductor devices