Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
NORM herausgegeben am 1.11.2011
Bezeichnung normen: ASTM E1438-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)