Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
NORM herausgegeben am 1.11.2011
Bezeichnung normen: ASTM E1634-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, stylus profilometry, surface analysis, x-ray photoelectron spectroscopy, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)