Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NORM herausgegeben am 10.12.1996
Bezeichnung normen: ASTM E431-96
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1996
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographs, radiography, reference illustrations, semiconductors, x-ray