Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-Ray Photoelectron Spectroscopy
NORM herausgegeben am 15.10.2011
Bezeichnung normen: ASTM E995-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.10.2011
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Auger electron spectroscopy (AES), Background subtraction techniques, Electron radiation, Integral background subtraction, Linear changes/linearity--metals/alloys, Secondary electron analog, Signal processing/display, Spectral data--metals/alloys, Spline technique, Surface analysis--spectrochemical analysis, Tailored modulation techniques (TMT), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), ICS Number Code 17.180.30 (Optical measuring instruments)