ASTM F1892-12

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NORM herausgegeben am 1.7.2012

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1892-12
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.7.2012
Zahl der Seiten: 41
Gewicht ca.: 123 g (0.27 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1892-12 :

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)