BS EN 60749-14:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Robustness of terminations (lead integrity).

NORM herausgegeben am 15.12.2003

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-14:2003
Ausgabedatum normen: 15.12.2003
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS EN 60749-14:2003 :

ISBN: 0 580 43082 0 Status: Under Review