
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.
NORM herausgegeben am 7.7.2003
Bezeichnung normen: BS EN 60749-20:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 7.7.2003
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS