BS EN 60749-20:2009

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.

NORM herausgegeben am 31.1.2010

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-20:2009
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 31.1.2010
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS