BS EN 60749-28:2017

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). Device level.

NORM herausgegeben am 10.7.2017

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-28:2017
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.7.2017
Zahl der Seiten: 50
Gewicht ca.: 150 g (0.33 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS