BS EN 60749-29:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test.

NORM herausgegeben am 29.6.2004

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-29:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 29.6.2004
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS