
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test.
NORM herausgegeben am 31.8.2011
Bezeichnung normen: BS EN 60749-29:2011
Ausgabedatum normen: 31.8.2011
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 580 69138 6 Status: Definitive