BS EN 60749-3:2002

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination.

NORM herausgegeben am 17.9.2002

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-3:2002
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 17.9.2002
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS