BS EN 60749-37:2008

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.

NORM herausgegeben am 30.5.2008

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-37:2008
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.5.2008
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS