
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
NORM herausgegeben am 10.9.2002
Bezeichnung normen: BS EN 60749-4:2002
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.9.2002
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS