BS EN 60749-43:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans.

NORM herausgegeben am 22.9.2017

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-43:2017
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 22.9.2017
Zahl der Seiten: 44
Gewicht ca.: 132 g (0.29 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS