BS EN 60749-5:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.

NORM herausgegeben am 18.6.2003

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-5:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 18.6.2003
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS