BS EN 62374-1:2010

Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.

NORM herausgegeben am 30.6.2011

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 62374-1:2010
Ausgabedatum normen: 30.6.2011
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS EN 62374-1:2010 :

ISBN: 978 0 580 75206 3 Status: Definitive