BS EN 62418:2010

Semiconductor devices. Metallization stress void test.

NORM herausgegeben am 31.8.2010

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 62418:2010
Ausgabedatum normen: 31.8.2010
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS EN 62418:2010 :

ISBN: 978 0 580 62610 4 Status: Definitive