
Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods. Bond strength — wire bond pull test methods.
NORM herausgegeben am 21.1.2026
Bezeichnung normen: BS EN IEC 60749-22-1:2026
Ausgabedatum normen: 21.1.2026
Zahl der Seiten: 68
Gewicht ca.: 204 g (0.45 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 539 34038 9 Status: Definitive