
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level.
NORM herausgegeben am 6.9.2022
Bezeichnung normen: BS EN IEC 60749-28:2022
Ausgabedatum normen: 6.9.2022
Zahl der Seiten: 54
Gewicht ca.: 162 g (0.36 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 539 13657 9 Status: Definitive