BS EN IEC 60749-37:2022

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.

NORM herausgegeben am 22.11.2022

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN IEC 60749-37:2022
Ausgabedatum normen: 22.11.2022
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS EN IEC 60749-37:2022 :

ISBN: 978 0 539 15199 2 Status: Definitive