BS EN IEC 60749-41:2020

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.

NORM herausgegeben am 9.9.2020

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN IEC 60749-41:2020
Ausgabedatum normen: 9.9.2020
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS EN IEC 60749-41:2020 :

ISBN: 978 0 580 96287 5 Status: Definitive