
Thermal standardization on semiconductor packages. Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points.
NORM herausgegeben am 24.3.2026
Bezeichnung normen: BS EN IEC 63378-6:2026
Ausgabedatum normen: 24.3.2026
Zahl der Seiten: 34
Gewicht ca.: 102 g (0.22 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 539 31677 3 Status: Definitive