BS IEC 62047-27:2017

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT).

NORM herausgegeben am 22.7.2020

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 62047-27:2017
Ausgabedatum normen: 22.7.2020
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 62047-27:2017 :

ISBN: 978 0 580 89909 6 Status: Definitive