BS IEC 62047-29:2017

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature.

NORM herausgegeben am 15.3.2018

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 62047-29:2017
Ausgabedatum normen: 15.3.2018
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 62047-29:2017 :

ISBN: 978 0 580 94013 2 Status: Definitive