BS IEC 62047-31:2019

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials.

NORM herausgegeben am 17.4.2019

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 62047-31:2019
Ausgabedatum normen: 17.4.2019
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 62047-31:2019 :

ISBN: 978 0 580 96660 6 Status: Definitive