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BS IEC 62047-34:2019

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer.

NORM herausgegeben am 16.4.2019

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 62047-34:2019
Ausgabedatum normen: 16.4.2019
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 62047-34:2019 :

ISBN: 978 0 580 97391 8 Status: Definitive