BS IEC 62047-35:2019

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electromechanical devices.

NORM herausgegeben am 20.4.2021

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 62047-35:2019
Ausgabedatum normen: 20.4.2021
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 62047-35:2019 :

ISBN: 978 0 580 99495 1 Status: Definitive