
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films.
NORM herausgegeben am 24.4.2019
Bezeichnung normen: BS IEC 62047-36:2019
Ausgabedatum normen: 24.4.2019
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 580 99118 9 Status: Definitive