BS IEC 62047-43:2024

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices.

NORM herausgegeben am 22.3.2024

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 62047-43:2024
Ausgabedatum normen: 22.3.2024
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 62047-43:2024 :

ISBN: 978 0 539 17665 0 Status: Definitive