BS IEC 62047-47:2024

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of bending strength of microstructures.

NORM herausgegeben am 28.8.2024

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 62047-47:2024
Ausgabedatum normen: 28.8.2024
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 62047-47:2024 :

ISBN: 978 0 539 21851 0 Status: Definitive