
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices. Bending test method for conductive thin films on flexible substrates.
NORM herausgegeben am 4.5.2018
Bezeichnung normen: BS IEC 62951-1:2017
Ausgabedatum normen: 4.5.2018
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 580 89312 4 Status: Definitive