
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices. Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory.
NORM herausgegeben am 24.1.2023
Bezeichnung normen: BS IEC 62951-8:2023
Ausgabedatum normen: 24.1.2023
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 539 15039 1 Status: Definitive