
Integrated circuits. Three dimensional integrated circuits. Model and measurement conditions of through-silicon via.
NORM herausgegeben am 24.1.2019
Bezeichnung normen: BS IEC 63011-3:2018
Ausgabedatum normen: 24.1.2019
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 580 96279 0 Status: Definitive