BS IEC 63068-1:2019

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Classification of defects.

NORM herausgegeben am 10.5.2019

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 63068-1:2019
Ausgabedatum normen: 10.5.2019
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 63068-1:2019 :

ISBN: 978 0 580 96413 8 Status: Definitive