BS IEC 63068-2:2019

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using optical inspection.

NORM herausgegeben am 8.2.2019

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 63068-2:2019
Ausgabedatum normen: 8.2.2019
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 63068-2:2019 :

ISBN: 978 0 580 51374 9 Status: Definitive