BS IEC 63229:2021

Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate.

NORM herausgegeben am 31.8.2023

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 63229:2021
Ausgabedatum normen: 31.8.2023
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 63229:2021 :

ISBN: 978 0 539 02920 8 Status: Definitive