BS IEC 63275-1:2022

Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability.

NORM herausgegeben am 5.10.2022

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS IEC 63275-1:2022
Ausgabedatum normen: 5.10.2022
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS IEC 63275-1:2022 :

ISBN: 978 0 539 12126 1 Status: Definitive