
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
NORM herausgegeben am 27.2.2020
Bezeichnung normen: BS ISO 14701:2018-TC
Ausgabedatum normen: 27.2.2020
Zahl der Seiten: 54
Gewicht ca.: 162 g (0.36 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 539 11820 9 Status: Under Review