BS ISO 14706:2014

Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.

NORM herausgegeben am 31.7.2014

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS ISO 14706:2014
Ausgabedatum normen: 31.7.2014
Zahl der Seiten: 36
Gewicht ca.: 108 g (0.24 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS ISO 14706:2014 :

ISBN: 978 0 580 82725 9 Status: Under Review