BS ISO 17470:2014

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.

NORM herausgegeben am 31.1.2014

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS ISO 17470:2014
Ausgabedatum normen: 31.1.2014
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

Die Annotation des Normtextes BS ISO 17470:2014 :

ISBN: 978 0 580 84121 7 Status: Revision Underway